打破教科书上老旧按键检测 自己独创改进方法!

2014-02-12 14:20 来源:电源网 作者:娣雾儿

传统教科书中讲过,无一例外都是采用delay的方法检测按键,但是这种方法有很多缺陷,今天就这一问题说说,小编作为初学者,各位大侠不要见笑啊。

传统的处理方法:在第一次检测到有键按下时,执行一段延时 10ms 的子程序以后再确认该按键电平是否能保持闭合状态的电平,如果保持闭合状态电平,则确认为真正有键按下,从而消除抖动的影响。

个人感觉有两点弊端:

1. 传统的处理方法执行10ms 的延时子程序,会降低程序的实时性。

2. 传统的处理方法一次按键动作的确认,只检测两次,在高抗干扰环境下的会有按键的误动作。

提出一些建议,大家看看是否可行呢:

1. 建议弹跳时间为 100ms 才可有效通过 EFT 杂讯认证。

2. 建议主程序中连续检查 100ms 的稳定低电平才可认定按键按下成立。

3. 相同道理连续检查 100ms 高电平才可认定按键弹起。

4. 为了保证 MCU 的执行效率,按键的检测尽量不要使用 Delay 的方式,可以考虑采用轮询检测和计时器配合的方式进行。

方法如下:

在发现低电平后,我们每一个循环(时基)去读取一次电平,并与上次进行比较,若是相同则计数器加 1,直至达到足够的次数就进行处理,否则计数器清零,重新开始。

教科书1

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检测 按键

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