近些年，传感器市场发展迅猛，应用领域非常广泛，但不可否认的是，现有背照式CMOS传感器在微透镜和光电二极管之间只有一层低折射层，光电二极管无法收集遮光层间隙以外的光线，而且随着像素密度的增加，遮光层的透光间隙宽度也会随之减小，严重影响传感器的光线收集能力和相位差检测对焦速度。
现有传感器内的光电二极管无法收集透光间隙外的光线
近日，佳能的一份新专利技术吸引了公众的目光，随着这份专利技术的公开，一种在传感器内层镜片和光电二极管之间嵌入高折射层的新技术也公之于众。新技术利用高折射层自身特性，旨在于提高传感器的光线收集能力和相位差检测对焦速度。一般微透镜折射率为1.6，低折射层的折射率为1.45，佳能此项新技术使用的高折射层的折射率达到了2.3。新技术通过在内层镜片和光电二极管之间嵌入高折射层，将所有入射光线都聚焦在透光间隙内，从而达到提高光线收集能力和相位差检测对焦速度的目的。
新传感器技术原理
其实，在小编看来，佳能本次公开的这项新技术专利与尼康的改善传感器光线收集能力的专利似乎是异曲同工。
