具有20多年历史的NIWeek被称为图形化系统设计领域的全球盛会，很受人们关注。而今年NIWeek已于8月4日-6日举行，其主办方美国国家仪器公司（简称NI）这次将地址选在奥斯汀，并邀请了3200多名权威人士出席见证NI在物联网方向上的发展。
此次 NIWeek的定位是工业物联网，在会上NI介绍了对物联网发展影响比较大的技术和目前存在的挑战，并发布了针对这些问题而研发出的最新解决方案和软硬件产品。
* I/O（RIO）架构的全新嵌入式系统硬件
这种硬件适用于开放灵活的LabVIEW环境下，具有可以实现重新配置的特点。它具有三个控制器：第一个是高性能CompactRIO控制器，它的系统牢固可靠，能够应对比较恶劣的环境；第二个是FlexRIO控制器，它能够应用在高性能嵌入式结构当中，具有易于携带的特点；第三个是Single-Board RIO控制器，它的优势体现在提高嵌入式应用的灵活性方面。这三个控制器功能强大、相辅相成，可以接受最严峻的控制和检测挑战。它们以SELinux系统为基础，支持LabVIEW软件、LabVIEW FPGA模块和NI Linux Real-Time的运行，为工业物联网应用提供了高级的安全功能。
*全新无线测试系统（简称WTS）
WTS结合了最新的PXI硬件，统一了各个标准和端口，并结合TestStand无线测试模块等灵活的测试序列生成软件，提高了仪器利用效率。除此之外，它还易于投入使用，而且它的测试序列能做到立即运行，使具有Qualcomm和Broadcom芯片的设备、集成式DUT和远程自动化控制更快完成测试。利用这些特点，RF测试设备的效率将得到大幅提升，从而达到降低测试成本的目的。
*全新CompactDAQ硬件和DIAdem 2015软件
CompactDAQ控制器分为4槽和8槽两种，拥有Intel Atom E3845四核处理器，能兼容Windows Embedded 7或NI Linux Real- Time这两种操作系统。它的接口使用的是全新USB3.0，在不影响速度的情况下可增加测量系统的通道。DIAdem 2015 64位软件可让用户加载和分析比以往更多的数据，帮助工程是解决大数据所带来的挑战。
*最新LabVIEW 2015系统级设计软件
升级后的LabVIEW在开发方式和调试工具等方面均有提高，使用起来更加的方便快捷。另外用户还可以通过它来快速学习软件设计方法，是人们能够开发处更强大高效的系统。
如果上述几种产品能够投入使用，相信会对智能测量、智能测试系统、智能电网、智能机器和智能发电这五大领域产生巨大的影响。
NI领导人表示公司会继续为客户提供可靠的智能解决方案来迎接物联网所带来的机遇与挑战。
