安捷伦展示射频微波与高速数字测试方案

2013-09-02 21:54 来源:电子信息网 作者:洛小辰

日前,首届电子设计创新会议(EDI CON2013)在京举行。作为全球最大的测试测量公司,安捷伦科技(NYSE:A)是本次会议的白金赞助商,安捷伦以“为中国的未来培育创新设计”为本次会议主题,集结来自全球各地的专家和最新的测试应用方案亮相首届电子设计创新会议。

在本次大会上,安捷伦共设有14个专题讲座、8个专题讨论以及超过10个主题的测试应用方案展示,参与大会的设计、测量与建模、系统工程和商业应用环节,全面展示安捷伦在射频微波与高速数字测试领域的最新测试应用方案,助力于为中国的未来培育创新设计。

安捷伦在(EDI CON)展示最新射频微波与高速数字测试解决方案

安捷伦在(EDI CON)展示最新射频微波与高速数字测试解决方案

安捷伦在此次展会上展示一系列技术上的创新产品。如针对国防、航空航天等高精尖领域发展的业界最高性能实时频谱分析仪PXA,应对恶劣环境等现场测试的十合一射频仪表Fieldfox,精确测量小信号的高清示波器9000H系列。

此外,安捷伦还专门展示了7个主题鲜明的测试应用方案,包括功放设计与测试、宽带信号的产生与分析、高速数字设计和信号完整性测试分析、EMI一致性测试、EDA仿真设计、模块化测试与应用,以及业界唯一的LTE 8X8信号生成与分析解决方案。

射频 微波 安捷伦

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