4结论
综合以上两组测试的测试结果，可以得到下表
由表1可以看到，由于TPS74401的噪声频谱密度最小，在给频综供电的时候可以取得最好的相噪性能;TPS7A8101噪声频谱密度相对较大，在给频综供电的时候取得的相噪性能相对较差;但是通过优化TPS7A8101的输出电路设计，频综的相位噪声得到了明显的改善。
实测结果很好的验证了前文的理论分析，即：LDO的噪声频谱密度参数(NSD)决定了由电源噪声引起的VCO相噪恶化;通过提高LDO的环路稳定性可以达到降低噪声频谱密度的目的，从而改善频综的输出相噪。
5、参考文献[1] LDO Noise Examined In Detail (SLAA412)
[2] LDO Noise Demystified (SLYT489)
[3] Externally Inducted VCO Phase Noise， DENNIS COLIN， Mica Microwave
[4] TPS74401 Datasheet (SBVS066M)
[5] TPS7A8101 Datasheet (SBVS179A)
