RZ数据格式,在系统时钟的起始时间T0,RZ测试波形保持为“0”,如果在该时钟周期图形存储器输出图形数据为“1”,则在该周期的时钟周期期间,RZ测试波形由“0”变换到“1”,时钟结束时,RZ测试波形回到“0”。若该时钟周期图形存储器输出图形数据为“0”,则RZ测试波形一直保持为“0”,在时钟信号周期内不再发生变化。归“1”格式(R1)与RZ相反。
非归“0”(NRZ)数据格式,在系统时钟起始时间T0,NRZ测试波形保持T0前的波形,根据本时钟周期图形文件存储的图形数据在时钟的信号沿变化。即若图形文件存储数据为“1”,那么在相应时钟边沿,波形则变化为“1”。NRZI波形是NRZ波形的反相。
在ATE中,通过测试程序对时钟周期、时钟前沿、时钟后沿和采样时间的定义,结合图形文件中存储的数据,形成实际测试时所需的测试向量。ATE测试向量与EDA设计仿真向量不同,而且不同的ATE,其向量格式也不尽相同。以JC-3165型ATE为例,其向量格式如图4所示。
ATE向量信息以一定格式的文件保存,JC-3165向量文件为*.MDC文件。在ATE测试中,需将*.MDC文件通过图形文件编译器,编译成测试程序可识别的*.MPD文件。在测试程序中,通过装载图形命令装载到程序中。
图4 ATE测试向量格式
ATE测试向量的生成
对简单的集成电路,如门电路,其ATE测试向量一般可以按照ATE向量格式手工完成。而对于一些集成度高,功能复杂的IC,其向量数据庞大,一般不可能依据其逻辑关系直接写出所需测试向量,因此,有必要探寻一种方便可行的方法,完成ATE向量的生成。
在IC设计制造产业中,设计、验证和仿真是不可分离的。其ATE测试向量生成的一种方法是,从基于EDA工具的仿真向量(包含输入信号和期望的输出),经过优化和转换,形成ATE格式的测试向量。
依此,可以建立一种向量生成方法。利用EDA工具建立器件模型,通过建立一个Test bench仿真验证平台,对其提供测试激励,进行仿真,验证仿真结果,将输入激励和输出响应存储,按照ATE向量格式,生成ATE向量文件。其原理如图5所示。
图5 ATE向量生成示意图