找到一种满足EDA与ATE的IC测试方法

2014-11-12 09:23 来源:电子信息网 作者:娣雾儿

测试平台的建立

(1)DUT模型的建立

①164245模型:在Modelsim工具下用Verilog HDL语言,建立164245模型。164245是一个双8位双向电平转换器,有4个输入控制端:1DIR,1OE,2DIR,2OE;4组8位双向端口:1A,1B,2A,2B.端口列表如下:

input DIR_1,DIR_2,OE_1,OE_2;

inout [0:7] a_1,a_2,b_1,b_2;

reg [0:7] bfa1,bfb1,bfa2,bfb2;//缓冲区

②缓冲器模型:建立一个8位缓冲器模型,用来做Test bench与164245之间的数据缓冲,通过在Testbench总调用缓冲器模块,解决Test bench与164245模型之间的数据输入问题。

(2)Test bench的建立

依据器件功能,建立Test bench平台,用来输入仿真向量。

Test bench中变量定义:

reg dir1,dir2,oe1,oe2;//输入控制端

reg[0:7] a1,a2,b1,b2;//数据端

reg[0:7] A1_out[0:7];//存储器,用来存储数据

reg[0:7] A2_out[0:7];

reg[0:7] B1_out[0:7];

reg[0:7] B2_out[0:7];

通过Test bench提供测试激励,经过缓冲区接口送入DUT,观察DUT输出响应,如果满足器件功能要求,则存储数据,经过处理按照ATE图形文件格式产生*.MDC文件;若输出响应有误,则返回Test bench和DUT模型进行修正。其原理框图可表示如图6所示。

IC6

图6 Test bench验证平台框图

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测试 IC

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