找到一种满足EDA与ATE的IC测试方法

2014-11-12 09:23 来源:电子信息网 作者:娣雾儿

(3)仿真和验证

通过Test bench给予相应的测试激励进行仿真,得到预期的结果,实现了器件功能仿真,并获得了测试图形。图7和图8为部分仿真结果。

IC7

图7 仿真数据结果

在JC-3165的*.MDC图形文件中,对输入引脚,用“1”和“0”表示高低电平;对输出引脚,用“H”和“L”表示高低电平:“X”则表示不关心状态。由于在仿真时,输出也是“0”和“1”,因此在验证结果正确后,对输出结果进行了处理,分别将“0”和“1”转换为“L”和“H”,然后放到存储其中,最后生成*.MDC图形文件。

IC8

图8 生成的*.MDC文件

结论

本文在Modelsim环境下,通过Verilog HDL语言建立一个器件模型,搭建一个验证仿真平台,对164245进行了仿真,验证了164245的功能,同时得到了ATE所需的图形文件,实现了预期所要完成的任务。

随着集成电路技术逐渐成熟,芯片设计水平不断提高,功能相对更全面,测试图形文件也变得复杂且巨大,以便编写出全面、有效的程序。覆盖芯片大多数功能的测试图形文件已成为新的挑战,因此,有必要寻找一种可在EDA工具和ATE测试平台间灵活通讯的方法。目前常用的方法是通过提取EDA工具产生的VCD仿真文件中信息,转换为ATE测试平台所需测试图形文件,需要对VCD文件有一定了解,这将是未来的进一步工作内容。

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测试 IC

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